项目介绍:
灵活的探测,4步工作流程,高级的分析性能
将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合,利用成熟的 Gemini 电子光学元件,多种探测器可选:用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间:设置成像与分析步骤,提高效率。
Sigma 300 性价比高,Sigma 500 装配有一流的背散射几何探测器,可快速方便地实现基础分析。任何时间,任何样品均可获得精准可重复的分析结果。
SmartEDX
为您带来一体化能谱分析解决方案
如果单采用SEM成像技术无法全面了解部件或样品,研究人员就需要在SEM 中采用能谱仪(EDS)来进行显微分析。通过针对低电压应用而优化的能谱解 决方案,您可以获得元素化学成分的空间分布信息。得益于:
1、优化了常规的显微分析应用,并且由于氮化硅窗口优秀的透过率 可以探测轻元素的低能X射线。
2、工作流程引导的图形用户界面极大地改善了易用性,以及多用户 环境中的重复性。
3、完整的服务和系统支持,由蔡司工程师为您的安装、预防性维护 及保修提供一站式服务。
能谱扫描电镜测试(SEM-EDS 或者 SEM-EDX)对测试样品要求:
1.送检样品必须为干燥固体,块状、片状、纤维状、颗粒或粉末状均可。
2.应有一定的化学、物理稳定性,在真空中及电子 束轰击下不会挥发或变形;无磁性、放射性和腐蚀性
3.对含水份较多的生物软组织样品,先进行临界点干燥前的固定、清洗、脱水及用醋酸(异)戊酯置换等处理。
4.图像观察样品应预先镀金膜 ,成份分析样品必需镀碳膜。一般情况下 , 样品体积不宜太大(≤ 5x5x2mm 较适合)。